產(chǎn)品分類(lèi)
技術(shù)文章/ TECHNICAL ARTICLES
對(duì)晶圓表面的污染進(jìn)行無(wú)損、非接觸式和高靈敏度分析
過(guò)渡金屬 LLD 10 采用直接 TXRF 測(cè)量方法8 原子/厘米2達(dá)到水平。 在封閉 X 射線管測(cè)量時(shí)間的 1/3 內(nèi)即可實(shí)現(xiàn)相同的精度,從而實(shí)現(xiàn)高通量。
產(chǎn)品名稱(chēng) | TXRF 3760 系列 | |
---|---|---|
技術(shù) | 全內(nèi)反射 X 射線熒光 (TXRF) | |
用 | 從 Na 到 You 的元素分析以測(cè)量晶圓污染 | |
科技 | 帶無(wú)液氮檢測(cè)器的 3 光束 TXRF 系統(tǒng) | |
主要組件 | 適用于最大 200 mm 晶圓的 XYθ 樣品臺(tái)系統(tǒng)、真空晶圓中的機(jī)器人傳輸系統(tǒng)、ECS/GEM 通信軟件 | |
選擇 | Sweep TXRF 軟件(能夠映射晶圓表面的污染物分布以識(shí)別“熱點(diǎn)")。 ZEE-TXRF 功能可實(shí)現(xiàn)零邊沿排除測(cè)量) | |
控制 (PC) | 內(nèi)部 PC、MS Windows®作系統(tǒng) | |
本體尺寸 | 1000 (寬) x 1760 (高) x 948 (深) 毫米 | |
質(zhì)量 | 100 kg(主機(jī)) | |
權(quán)力 | 三相 200 VAC 50/60 Hz,100 A |
關(guān)于我們
公司簡(jiǎn)介榮譽(yù)資質(zhì)資料下載產(chǎn)品展示
GF-603AWP最小稱(chēng)重1.8g日本AND精密天平 GF-403AWP可讀性0.001 克AND精密天平 GX-203AWP防止損壞重量傳感器AND精密天平 GX-224A日本AND最小穩(wěn)重120mg精密天平 GF-324A雙向 USB 接口日本AND高級(jí)精密分析天平服務(wù)與支持
技術(shù)文章新聞中心聯(lián)系我們
聯(lián)系方式在線留言版權(quán)所有 © 2025 北崎國(guó)際貿(mào)易(北京)有限公司 備案號(hào):京ICP備17005343號(hào)-5
技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登陸 sitemap.xml